株式会社イメージセンス

画像解析(位相解析、光・電子線解析、粒子解析、動画解析、可視化、RHEED)界面評価

株式会社イメージセンス

光・電子線解析、3次元計測にフーリエ位相解析プログラム
顕微鏡画像等に粒子解析等が可能な汎用画像解析ソフト
可視化に流体解析プログラム、ガス密度可視化システム
薄膜の成長の様子の観察にRHEEDモニターシステム
結晶界面の整合性予測に界面整合性評価プログラム

イメージセンスでは・・・

  株式会社イメージセンスでは、画像解析ライブラリーをベースにフーリエ位相解析、
  スペクトル解析、粒子計測、ガス密度可視化、流体解析、運動解析、動画像解析、
  カラー解析などの研究・開発者向けの画像解析システムの提供をしています。
  また、開発部門が直接サポートを行い、共同研究にも積極的に参加しています。
  さらに、RHEED振動モニターや界面整合性評価プログラムなど電子材料向けの
  アプリケーションを提供しています。

参加プロジェクト

  • 外村位相情報プロジェクト(科学技術振興事業団)「文部科学省」
  • 機能直視顕微鏡プロジェクト(NEDO)  
    「経済産業省」2004年度日本顕微鏡学会第19回論文賞受賞
    フーリエ位相解析プログラムが半導体P-N Junctionの可視化に活躍
    共同研究相手のファインセラミックセンターの平山さんが日本電子顕微鏡
    学会の最高の賞である瀬藤賞を受賞されました。

製品案内

TOPページ 汎用画像解析ソフト 汎用画像解析ライブラリー 時系列画像解析ボード
フーリエ位相解析プログラム 位相動画再生プログラム パワースペクトルモニター
RHEED振動モニター 界面整合性評価プログラム 流体解析プログラム 運動解析ソフト
画像積算システム 会社概要 お問い合わせ
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〒124-0013
東京都葛飾区東立石4-8-1-204 レクセル立石
TEL: 03-5670-6217
FAX: 03-5670-6215
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